| Profesorado |
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| Programa | Síntesis de materiales cristalinos.Síntesis de materiales vítreos.Obtención de láminas delgadas.Análisis térmicos: Termogravimetría (TG) Análisis Térmico Diferencial (DTA), Calorimetría Diferencial de Barrido (DSC). Aplicación a la síntesis y a la caracterización estructural Análisis químicos: EDAX, XRD.Caracterización estructural: XDR, XPS, FT-IR, SEM, TEM, UV-Vis, EFL, FL. Caracterización eléctrica: Espectroscopía de Impedancia (EI), Medida de Resistividad en DC, histéresis ferroeléctrica, medidas de efecto Hall.Correlación estructura-propiedades físicas. |
| Objetivos | Dar una introducción a la obtención, mediante la tecnología sol-gel, de materiales vítreos y materiales cristalinos, así como, a la caracterización estructural y estudio de las propiedades eléctricas y ópticas de los mismos. |
| Bibliografía |
- "CHEMICAL PROCESS CONTROL: AN INTRODUCTION TO THEORY AND PRACTICE". George Stephanopoulos. Prentice-Hall, 1984
- " A GUIDE TO MATERIALS CHARACTERIZATION AND CHEMICAL ANALYSIS" John P. Sibila VCH Publishers, 1988
- "METODOS INSTRUMENTALES DE ANALISIS" Willard Merritt, Dean Settle Grupo Editorial Iberoamérica, 1988
- "OPTICAL PROPERTIES OF SOLIDS" Mark Fox Oxford University Press, 2001
- "IMPEDANCE SPECTROSCOPY" J. Ross Macdonald John Wiley and Sons, 1987.
- "DIELECTRIC RELAXATION IN SOLIDS" A.K. Jonscher. Chelsea Dielectrics Press, 1983.
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| Metodología | La impartición de esta asignatura se realizará combinando la docencia teórica con las prácticas en el laboratorio. |
| Evaluación | La evaluación consistirá en la realización y presentación de los resultados de un trabajo práctico que será supervisado por los profesores del curso |
| Requisitos | Conicimientos básicos de Electromagnetismo, Óptica y Física del Estado Sólido |
| Observaciones | |
| Página Web | |
| Horario |
Clases:
- Miércoles 06/
02/
2008 de
15:00 a
18:00
(Colisiona con:
Criptología y Seguridad Informática, Herramientas y Lenguajes de Programación, Metaheurísticas, Obtención y caracterización de laminas delgadas y materiales nanoestructurados, Procesado de Imagen y Aplicaciones 3D)
- Miércoles 13/
02/
2008 de
15:00 a
18:00
(Colisiona con:
Acústica, Computación de altas prestaciones, Criptología y Seguridad Informática, Obtención y caracterización de laminas delgadas y materiales nanoestructurados, Procesado de Imagen y Aplicaciones 3D, Sistemas de Información, Sistemas Distribuidos)
- Miércoles 27/
02/
2008 de
15:00 a
18:00
(Colisiona con:
Acústica, Computación de altas prestaciones, Obtención y caracterización de laminas delgadas y materiales nanoestructurados, Sistemas de Información, Sistemas Distribuidos)
- Jueves 06/
03/
2008 de
15:00 a
18:00
(Colisiona con:
Acústica, Computación de altas prestaciones, Obtención y caracterización de laminas delgadas y materiales nanoestructurados)
- Jueves 13/
03/
2008 de
15:00 a
18:00
(Colisiona con:
Fundamentos y Tecnología en Fotónica, Obtención y caracterización de laminas delgadas y materiales nanoestructurados)
- Jueves 27/
03/
2008 de
15:00 a
18:00
(Colisiona con:
Espectroscopía óptica de iones luminiscentes)
- Martes 01/
04/
2008 de
15:00 a
18:00
(Colisiona con:
Fundamentos y Tecnología en Fotónica, Obtención y caracterización de laminas delgadas y materiales nanoestructurados)
- Jueves 03/
04/
2008 de
15:00 a
18:00
(Colisiona con:
Fundamentos y Tecnología en Fotónica)
- Jueves 10/
04/
2008 de
15:00 a
18:00
- Jueves 24/
04/
2008 de
15:00 a
18:00
- Jueves 08/
05/
2008 de
15:00 a
18:00
(Colisiona con:
Robótica)
- Jueves 15/
05/
2008 de
15:00 a
18:00
(Colisiona con:
Robótica)
- Jueves 22/
05/
2008 de
15:00 a
18:00
(Colisiona con:
Robótica)
- Jueves 29/
05/
2008 de
15:00 a
18:00
(Colisiona con:
Inteligencia Artificial y Educación, Técnicas Instrumentales aplicadas a la Vigilancia Atmosférica)
- Jueves 05/
06/
2008 de
15:00 a
18:00
(Colisiona con:
Inteligencia Artificial y Educación, Técnicas Instrumentales aplicadas a la Vigilancia Atmosférica)
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